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化合物半導体‐絶縁膜界面の界面準位の光イオン化過程に関する基礎研究

化合物半導体‐絶縁膜界面の界面準位の光イオン化過程に関する基礎研究
化合物半导体-绝缘膜界面界面态光电离过程的基础研究
批准号:
59750001
负责人:
澤田 孝幸
金额:
$0.64万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份:
1984
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
1984 至 --
关键词:

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项目成果

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InGaAs/InPヘテロ構造MISFETの光応答に関する基礎研究
  • 批准号:
    58750001
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
  • 资助金额:
    $0.63万
  • 财政年份:
    1983
  • 负责人:
    澤田 孝幸
  • 依托单位:
陽極酸化プロセスによるAl_2O_3-InP超高速n-チャネルMOSFETの製作
  • 批准号:
    56750192
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
  • 资助金额:
    $0.51万
  • 财政年份:
    1981
  • 负责人:
    澤田 孝幸
  • 依托单位:
InP-陽極酸化膜界面の電気的特性に関する研究
  • 批准号:
    X00210----575002
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
  • 资助金额:
    $0.51万
  • 财政年份:
    1980
  • 负责人:
    澤田 孝幸
  • 依托单位: