顕微ラマン差分光法による半導体薄膜極微領域の結晶性評価
顕微ラマン差分光法による半導体薄膜極微領域の結晶性評価
使用显微拉曼差分光谱评估半导体薄膜超细区域的结晶度
批准号：
58209033
负责人：
中島 信一
金额：
$1.28万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Special Project Research
财政年份：
1983
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1983 至 --
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会议论文
ワイドギャップ半導体薄膜の表層評価分光画像計測システムの試作
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批准号：08555005
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项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
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资助金额：$4.48万
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财政年份：1996
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负责人：中島 信一
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依托单位：
ラマン・遠赤外分光法によるC_<60>結晶構造変化/相転移の研究
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批准号：06224219
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项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
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资助金额：$0.9万
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财政年份：1994
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负责人：中島 信一
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依托单位：