Structural studies around light elements by soft x-ray fluorescence holography

通过软 X 射线荧光全息术研究轻元素周围的结构

• 批准号: 22K12662
• 负责人: 細川 伸也
• 金额: $ 2.66万
• 依托单位: Kumamoto University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2022
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2022-04-01 至 2025-03-31
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22K12662/
• 关键词: ホログラフィー; 軽元素; ワイドギャップ半導体; 原子配列; 軟X線

材料に軽元素を含むとき、その構造研究の最も大きな課題は、軽元素のまわりの局所原子配列をX線回折やX線吸収微細構造などの一般的な手法で求めることができないことである。中性子回折を適用できることもあるが、可能な元素がかなり制限される。申請者はこの問題を解決するために、蛍光軟X線を用いたホログラフィー法による測定を提案した。この方法は硬X線を直接入射する標準波と、一旦近接原子の散乱をする物体波が、硬X線の方向と結晶の方位との関係で干渉を起こすため、軽元素から放出される蛍光軟X線の強度が変調を起こすことを利用する。本研究では、アンジュレータ放射光から出る高強度の硬X線を真空容器に導き、真空中で結晶を入射角、変位角の2つの角度で変化させ、放出される蛍光軟X線を敏感でエネルギー分析ができるシリコン・ドリフト検出器を用いて測定する。測定した蛍光軟X線の角度変化（ホログラム）は最新のスパース・モデリングを用いて解析を行い、軽元素のまわりの局所原子配列を導出する。対象とする試料は、シリコンカーバイド・ワイドギャップ半導体やコバルトーニッケルーアルミニウム準結晶を予定している。

The elements of the material include the most important problems in the research, the most important problems, and the atomic arrangement of the X-ray, the X-ray, the X-ray absorption, the micro-structure, and the general method of making the material. The neutral folds back and uses the elements to limit the size of the elements. The applicant is responsible for the determination of the proposed proposal by using the method to solve the problem. The standard wave of the standard wave is directly incident by the hard X-ray method, once the near atom is scattered and the object wave is scattered, the azimuth of the hard X-ray direction is broken, the azimuth is dry, and the element is emitted. In this study, the high intensity hard X-ray vacuum vessel, the incident angle of the vacuum crystal, the azimuth angle, the azimuth angle and the angle of the vacuum vessel are measured in this study. the output device is measured by the instrument. Determine the latest data of X-ray angle measurement. Parse the rows and elements of the local atomic array. In the same way as the material, the temperature, the temperature and the temperature.