原子炉シビアアクシデントにより生成された燃料デブリ微粒子の化学状態の解明

阐明严重反应堆事故产生的燃料碎片颗粒的化学状态

• 批准号: 22K12674
• 负责人: 竹田 幸治
• 金额: $ 2.66万
• 依托单位: Japan Atomic Energy Agency
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2022
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2022-04-01 至 2025-03-31
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22K12674/
• 关键词: 走査型透過X線顕微鏡; 軟X線分光実験; 放射性物質; 廃炉作業

当該研究で使用する走査型透過X線顕微鏡(STXM)の高空間分解能化を図るため、これまで使用していた50nmフレネルゾーンプレート(FZP)にかわり25nm仕様のFZPを取り付けたSTXM装置本体の調整を放射光ビームラインの光学調整とあわせて行った。空間分解能評価は電子顕微鏡校正標準を用い実施し、その結果、ほぼ設計通りである30nm以下の空間分解能を達成していることを確認した。STXMデータ画像のノイズレベルを低減するため、特に装置内部での可視光の抑制が必須である。一方で装置本体には必要最低限のビューポートが備えられている。装置の空間分解能はFZPによる集光サイズと試料位置制御精度の調和により決定するため、ビューポートの一部はFZPと試料ステージの相対位置のnmオーダー制御を行うためのレーザー干渉計用レーザー光導入ポートとして使っている。装置本体とレーザー干渉計の複雑な立体配置のためにこのポートからの可視光の侵入が問題となっていたが、レーザー干渉計の性能を維持しつつ完全遮蔽のためのカバーを製作・設置した。これにより装置内部の可視光レベルは劇的に低下させることができた。現在、測定試料を取り付けた試料マウントは装置を大気暴露して実験者が手を使って直接試料ステージに設置しているが、放射性物質を含む試料を安全に取り扱うことができるようトランスファーロッド等を用いて試料マウントを装置内に導入する機構（トランスファー機構）を構築ための部品設計を進め、一部の部品については製作した。R5年度以降、組み立てを進める。STXM実験において使用可能な密封試料マウントの試作検討のため、100nm膜厚SiNメンブレン2枚でFeを含んだ微粒子試料を挟み込んだものを用意しFe L23吸収端での模擬実験を実施した。その結果、十分な強度での実験が可能であることを実証した。

When the study uses X-ray diffraction micrometer (STXM) high-space decomposition to convert radiation radiation into optical equipment, it is possible to use high-speed 50nm equipment to achieve high-level space decomposition (FZP). In this study, 25nm customers are required to use the STXM device body to analyze the radiation spectrum, optical processing, optical integration, and so on. The space decomposition can improve the performance of the electronic micrometer correction standard, the results of the test, and the equipment. The space decomposition below the 30nm can be converted into the confirmation of the electron micrometer. The STXM picture shows that the light suppression must be affected by the light suppression in the special device. One side of the device body is required to have a minimum limit. The space decomposition of the device can be used to determine the accuracy and accuracy of the equipment in the space of the equipment. The equipment can determine the accuracy and the location of the FZP materials. The position of the FZP materials is related to each other. The nm system is used to determine the position of the equipment. The main body of the device is designed to copy the three-dimensional configuration, the system can be used to invade the problem, the device can be used to maintain the performance of the device, and to completely cover the device. The interior of the device can be lighted by the low level of the device. At present, it is necessary to determine that the device is used to expose the equipment, and the device is used to directly set the device. Radioactive materials are included in the equipment of the equipment, such as the safety equipment of the equipment, the equipment and the equipment. In the year R5, the health and organization will conduct an independent review of the project. It is possible to use the sealing material in STXM, the thickness of 100nm film, the thickness of SiN film, the thickness of Fe, the content of fine particles, and the intention to use the Fe L23 suction end. The result of the test, which is very strong, may affect the result.