TEM USER TRAINING

TEM 用户培训

基本信息

  • 批准号:
    8172291
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 1.08万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    美国
  • 项目类别:
  • 财政年份:
    2010
  • 资助国家:
    美国
  • 起止时间:
    2010-04-07 至 2011-01-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

This subproject is one of many research subprojects utilizing the resources provided by a Center grant funded by NIH/NCRR. The subproject and investigator (PI) may have received primary funding from another NIH source, and thus could be represented in other CRISP entries. The institution listed is for the Center, which is not necessarily the institution for the investigator. ABSTRACT: The Resource currently has three electron microscopes for use: The JEM-4000FX ("IVEM"), the AEI EM-7 million-volt TEM ("HVEM"), and the FEI F-20 TEM. Single-particle cryo-EM work, and some tomography, is done on the F-20, most cryo-tomographic data collection is done on the JEM-4000, and most thick-plastic-section tomographic data collection is done on the HVEM. In all cases, the project is discussed beforehand with the user to insure that the specimen and microscope conditions will be appropriate for the study at hand. Assistance is also given with interpretation of results and further processing in the case of tomography, single-particle, or microanalysis applications. Advice is also given in preparing plunge-frozen specimens for rhe F-20 or JEM-4000, and in how to stain thick sections for the HVEM . Xing Meng is responsible for the F-20, David Barnard for the HVEM and Michael Marko for the JEM-4000. These individuals do the initial training for all users, both internal and external. Christian Renken has in turn done some training on the F-20, and David Mankus will take over, now that Christian Renken has left the RVBC. The F-20 has a modern user interface, and it can be set up for a relatively inexperienced microscopist to use, the only special precaution being loading of the specimen. The user will need to be taught SerialEM to collect tomographic tilt series, and will need to learn how recognize good specimens and good images for single-particle cryo-EM The JEM-4000 has a wide range of systems, including low dose semi automated tomography, EFTEM and EELS, STEM, and X ray microanalysis. For ordinary use of the microscope, only a short training period is required, but for special modes and operations extensive training is required, depending on the experience of the user. For short projects involving advanced techniques for inexperienced users, the microscope is operated by M. Marko with the user looking on. Except for experienced internal users, M. Marko sets up the microscope appropriately for each user, and changes the specimens. During HVEM training sessions, David Barnard sits with the user, and gives instructions on how to tilt the specimen, use the TV system for focusing, take pictures, etc. He is then responsible for assisting the user should any problems arise, and for changing specimens and developing negatives.
该子项目是利用该技术的众多研究子项目之一 资源由 NIH/NCRR 资助的中心拨款提供。子项目和 研究者 (PI) 可能已从 NIH 的另一个来源获得主要资金, 因此可以在其他 CRISP 条目中表示。列出的机构是 对于中心来说,它不一定是研究者的机构。 抽象的: 该资源目前拥有三台电子显微镜可供使用:JEM-4000FX(“IVEM”)、AEI EM-7 百万伏 TEM(“HVEM”)和 FEI F-20 TEM。 单粒子冷冻电镜工作和一些断层扫描是在 F-20 上完成的,大多数冷冻断层扫描数据收集是在 JEM-4000 上完成的,大多数厚塑料截面断层扫描数据收集是在 HVEM 上完成的。 在所有情况下,都会事先与用户讨论该项目,以确保标本和显微镜条件适合当前的研究。 在断层扫描、单颗粒或微量分析应用中,还提供结果解释和进一步处理方面的帮助。 还提供了有关为 F-20 或 JEM-4000 准备切入冷冻标本以及如何为 HVEM 染色厚切片的建议。 孟兴负责 F-20,大卫·巴纳德负责 HVEM,迈克尔·马科负责 JEM-4000。 这些人员为所有内部和外部用户进行初步培训。 克里斯蒂安·伦肯 (Christian Renken) 又对 F-20 进行了一些训练,既然克里斯蒂安·伦肯 (Christian Renken) 已经离开 RVBC,那么大卫·曼库斯 (David Mankus) 将接任。 F-20 具有现代化的用户界面,可以设置为相对缺乏经验的显微镜师使用,唯一的特殊预防措施是加载样本。 用户需要学习 SerialEM 来收集断层扫描倾斜系列,并且需要学习如何识别单颗粒冷冻电镜的良好样本和良好图像 JEM-4000 拥有多种系统,包括低剂量半自动断层扫描、EFTEM 和 EELS、STEM 和 X 射线微量分析。 对于显微镜的普通使用,只需要较短的培训时间,但对于特殊模式和操作则需要广泛的培训,具体取决于用户的经验。 对于涉及缺乏经验的用户的先进技术的短期项目,显微镜由 M. Marko 在用户观看的情况下操作。 除了经验丰富的内部用户外,M. Marko 还会为每个用户适当地设置显微镜并更换标本。 在 HVEM 培训课程期间,David Barnard 与用户坐在一起,指导如何倾斜标本、使用电视系统聚焦、拍照等。然后,他负责在出现任何问题时帮助用户,以及更换标本和冲洗底片。

项目成果

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专著数量(0)
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