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RTL级芯片设计的恶意电路特征建模与安全评估机理研究

批准号：
--
项目类别：
面上项目
资助金额：
55 万元
负责人：
慕德俊
依托单位：
西北工业大学
学科分类：
集成电路设计
结题年份：
--
批准年份：
2022
项目状态：
未结题
项目参与者：
慕德俊
关键词：
RTL级芯片设计 恶意电路 特征建模 安全评估 形式化验证

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  • 批准号：
    61672433
  • 项目类别：
    面上项目
  • 资助金额：
    63.0万元
  • 批准年份：
    2016
  • 负责人：
    慕德俊
  • 依托单位：
    西北工业大学
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