利用本项目，我们在EAST托克马克上搭建了一套X模的连续波频率调制密度剖面反射计。这套系统是通过HTO微波源产生连续的从12.5GHz到18GHz的扫频信号，经过四倍频放大器之后频率变为50GHz到72GHz，落在V-band的范围之内。角锥喇叭的极化方向是垂直于边界等离子体的磁力线的方向。根据这个频率范围和极化方式，这套系统测量的密度范围是0.5e19m-3到3e19m-3(当纵场为1.8T时)，时间分辨率是12.5微秒到50微秒。由于不知道边界等离子体的密度，我们通过经验公式来假设，再反演得到整个密度分布。这种计算方法最大的空间误差大约4cm。通过这套系统，我们观测到等离子体从低约束模到高约束模的密度分布的演化过程，得到了EAST装置上的台基区顶点的密度值以及台基区的密度梯度。利用本项目，我们在EAST装置上搭建了一套多普勒反射计系统，它由两个独立的子系统组成，分别覆盖Q-band和V-band。前段光学系统由一个平面反射镜和一个椭圆反射镜组成，其中椭圆面是根据最佳的波数分辨率来设计的。微波源来自一个可编程合成源，我们使用了20MHz的单边带调制频率来搭建外差探测系统。通过射线追踪模拟来计算截止层处的位置和波数。在EAST实验中，我们得到了L模和H模下的垂直传播速度的径向分布。