单个重离子引起SiC MOSFET材料微观损伤演化及器件漏电退化机理研究
批准号：
12505316
项目类别：
青年科学基金项目（C类）
资助金额：
30.00 万元
负责人：
闫晓宇
依托单位：
学科分类：
数理科学部
结题年份：
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批准年份：
2025
项目状态：
未结题
项目参与者：
闫晓宇
关键词：
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