近年，不少研究表明氧化应激在黄曲霉毒素(AF)的产生过程中起着重要的作用，但至今不清楚压力应答基因和氧化应激与AF合成之间的作用机理。我们前期的研究表明，黄曲霉基因组中一表达序列标签序列(GenBank：CA747446，暂定名X基因)与AF产生呈正相关性，敲除X基因的突变菌株产AF的量降低了数倍至上百倍，该基因与氧化应激之间存在明显的相关性，且影响到基因组的甲基化变化，此外，该基因可能影响AF的胞外分泌。本研究在以上工作的基础上，以敲除X基因的突变菌株和X基因为研究对象，通过一系列微生物学、分子遗传学和分析化学等技术，从表型到基因组的多个层面上鉴定X基因在AF代谢流中的功能，特别阐明X基因对胞内氧化应激的影响及X基因和氧化应激在AF合成中的作用机理，此外，还将针对X基因探讨以抗氧化剂为武器的控制AF污染的途径。该研究将为深入理解细胞合成AF的机制和发展AF污染的控制技术提供新的理论基础。