压力应答基因和氧化应激与黄曲霉毒素合成代谢关联作用的机理研究

近年，不少研究表明氧化应激在黄曲霉毒素(AF)的产生过程中起着重要的作用，但至今不清楚压力应答基因和氧化应激与AF合成之间的作用机理。我们前期的研究表明，黄曲霉基因组中一表达序列标签序列(GenBank：CA747446，暂定名X基因)与AF产生呈正相关性，敲除X基因的突变菌株产AF的量降低了数倍至上百倍，该基因与氧化应激之间存在明显的相关性，且影响到基因组的甲基化变化，此外，该基因可能影响AF的胞外分泌。本研究在以上工作的基础上，以敲除X基因的突变菌株和X基因为研究对象，通过一系列微生物学、分子遗传学和分析化学等技术，从表型到基因组的多个层面上鉴定X基因在AF代谢流中的功能，特别阐明X基因对胞内氧化应激的影响及X基因和氧化应激在AF合成中的作用机理，此外，还将针对X基因探讨以抗氧化剂为武器的控制AF污染的途径。该研究将为深入理解细胞合成AF的机制和发展AF污染的控制技术提供新的理论基础。