集成电路芯片电磁泄漏旁路攻击机理及解密研究
批准号：
60571037
项目类别：
面上项目
资助金额：
22.0 万元
负责人：
赵强
依托单位：
学科分类：
电磁场与波
结题年份：
2008
批准年份：
2005
项目状态：
已结题
项目参与者：
陈开颜、魏明、矫文成、陈亚洲、褚杰、胡晓峰、王洪胜、张鹏、孙海涛
项目摘要
结项摘要
项目成果
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中文摘要
大规模集成电路芯片使用各种加密方式,其密钥位数之高使得用数学算法进行解密，可能需要十几个计算机年。FPGA等芯片还使用了基于内部结构方面的加密措施，可对各类数据或知识产权实施更为有效的保护。然而，依照军事和安全等方面的需求，芯片的解密工作必须设法进行，且至关重要。本研究拟针对大规模集成电路的"旁路"效应（如光、功耗、电磁辐射等）能够泄漏信息，探求新型的解密理论，并采用相应的攻击技术与智能识别方法破
英文摘要
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DOI：
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发表时间：
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期刊：
小型微型计算机系统, 2007, 28(11): 2070-2073.
影响因子：
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作者：
[]
通讯作者：
DOI：
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发表时间：
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期刊：
武汉大学学报(信息科学版), 2008, 33(10):1088-1091. EI收录
影响因子：
--
作者：
[]
通讯作者：
DOI：
--
发表时间：
--
期刊：
计算机工程, 2007, 33(14): 239-240,246.
影响因子：
--
作者：
[]
通讯作者：
DOI：
--
发表时间：
--
期刊：
计算机测量与控制, 2007,15(2): 222-223,247.
影响因子：
--
作者：
[]
通讯作者：
DOI：
--
发表时间：
--
期刊：
军械工程学院学报, 2006, 18(3): 41-43,56.
影响因子：
--
作者：
[]
通讯作者：
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