单芯片多处理器容错设计模型及其可信性评价研究

批准号:
60403026
项目类别:
青年科学基金项目
资助金额:
24.0 万元
负责人:
姚文斌
依托单位:
学科分类:
F0204.计算机系统结构与硬件技术
结题年份:
2007
批准年份:
2004
项目状态:
已结题
项目参与者:
梁利平、郭松柳、顾瑜、王科兵、陈建党
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中文摘要
微处理器可靠性问题一直是计算机系统结构设计的核心问题之一,随着半导体工业亚深微米工艺的进步,使得芯片内部各部件具有更细的线宽和更低的电压,并具有更高的运算主频,仅仅依靠传统的避错设计技术已经不能满足系统可信性需要,基于容错的可靠性设计正逐步成为处理器系统设计研究重点。本项目针对运行安全关键应用的高性能微处理器,研究在单一芯片内部利用多个自治的处理器内核来实现有效的容错管理控制机制,通过基于软件故障注入的性能分析与评价工具,研究建立有效的单芯片多处理器的系统结构模型和系统可信性评价模型,从而为优化高可靠性微处理器的系统结构设计与评估提供科学的理论依据和指导。本项目的研究成果对于探索未来微处理器的发展趋势,提高微处理器系统的可信性,进而构造高性能计算机,为高可靠性关键应用提供安全保障具有重要的科学和现实意义。
英文摘要
期刊论文列表
专著列表
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专利列表
DOI:--
发表时间:--
期刊:清华大学学报, Vol 45, No. 4, pp. 458-462, April 2005
影响因子:--
作者:姚文斌, 李炯亮, 汪东升, 郑纬民
通讯作者:姚文斌, 李炯亮, 汪东升, 郑纬民
Multipath passive data acknowl
多路径被动数据确认
DOI:--
发表时间:--
期刊:
影响因子:--
作者:Cai Shaobin, Yao Nianmin, Wang
通讯作者:Cai Shaobin, Yao Nianmin, Wang
DOI:--
发表时间:--
期刊:
影响因子:--
作者:Yao Wenbin, Wang Dongsheng.
通讯作者:Yao Wenbin, Wang Dongsheng.
DOI:--
发表时间:--
期刊:上海师范大学学报,Vol 34, No. 9, pp 65-68, 2005(增刊)
影响因子:--
作者:姚文斌;门朝光;蔡绍滨.
通讯作者:蔡绍滨.
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