X-ray mapping 是一种重要的元素分布分析技术，广泛应用于冶金、环境、医学及材料科学领域，如今这项技术逐渐从定性分析向定量分析发展。以多元统计分析方法为主的数据后处理方法，让大量谱图处理和快速定量X-ray mapping分析成为可能。本项目结合了蒙特卡罗模拟和偏最小二乘法，发展了定量X-ray mapping分析方法。具体步骤通过能谱仪校正后的模拟谱图，采用偏最小二乘法建立起谱图信号和元素组份含量之间的回归模型。通过对标准样品进行组分定量分析和结果对比，初步证明这套方法使行之有效，并能运用于陶瓷样品的元素定量分析。同时合作交流工作获得了SEM-EDX在碳纳米颗粒分析上成功应用；还有采用多元回归统计方法对于古代陶瓷材料的X射线数据进行聚类分类分析。