半导体中杂质和缺陷的SDIC,SDPC效应及其显微成像研究
批准号:
69076419
项目类别:
面上项目
资助金额:
4.0 万元
负责人:
付济时
依托单位:
学科分类:
半导体器件物理
结题年份:
1993
批准年份:
1990
项目状态:
已结题
项目参与者:
吴恩、许惠英
关键词:
新型半导体材料及其器件的电检测磁共振技术
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批准号:19574005
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项目类别:面上项目
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资助金额:8.0万元
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批准年份:1995
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负责人:付济时
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依托单位:
高灵敏度电子顺磁共振成像方法研究
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批准号:19074007
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项目类别:面上项目
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资助金额:4.0万元
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批准年份:1990
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负责人:付济时
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依托单位:
用ODMR和PDMR研究半导体中的杂质和缺陷
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批准号:68676040
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项目类别:面上项目
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资助金额:6.0万元
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批准年份:1986
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负责人:付济时
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依托单位:
国内基金
海外基金