用IBD原理和SNP芯片筛选家族性热性惊厥基因

家族性热性惊厥是小儿常见病，遗传倾向显著而方式复杂。通过定位候选策略我们已将其定位于19p13.3，但尚未找到致病基因。共同祖先（IBD）以及基于该原理的受累同胞对（ASP）和受累亲属对（APM）连锁分析属非参数分析，适用于筛选家族性热性惊厥基因。为尽快找到致病基因，需要在许多位点上同时进行ASP/APM分析，而检测SNPs的Affymatrix芯片具备强大的并行分析有此能力。我们设想将ASP/APM分析与检测SNPs的基因芯片技术相结合，通过收集少数受累亲属对和近亲婚配的家系样本，用检测人染色体的SNPs芯片和神经兴奋性相关基因的两级芯片，全面扫描人类基因组，筛选出与FC关联者，同时以LOD连锁分析、传递不平衡检验（TDT）、单倍型相对风险检验（HHR）和突变筛查等方法进一步确认，并用更多的家系做相关分析，迅速找到致病或相关基因，明确其功能、病理发生和相互作用机制。