XPS Measurement of the Alloying Process in Sequentially Evaporated Cu-In Films
XPS Measurement of the Alloying Process in Sequentially Evaporated Cu-In Films
复制标题
连续蒸发 Cu-In 薄膜合金化过程的 XPS 测量
DOI：
10.3131/jvsj.38.657
复制
发表时间：
1995
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
S. Baba
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
T. Nakano;S. Baba
