J.Cao: "Simaltaneors determination of the optical constants and the thickness of very thin film from soft-x-ray reflectance measurements" Appl.Opt.
J.Cao: "Simaltaneors determination of the optical constants and the thickness of very thin film from soft-x-ray reflectance measurements" Appl.Opt.
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J.Cao：“Simaltaneor 通过软 X 射线反射测量来确定光学常数和非常薄膜的厚度”Appl.Opt。
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