Microstructure in shear band observed by microfocus X-ray computed tomography
Microstructure in shear band observed by microfocus X-ray computed tomography
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DOI：
10.1680/geot.54.8.539.52009
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发表时间：
2004-10-01
期刊：
影响因子：
5.8
通讯作者：
Takahashi, M
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Oda, M;Takemura, T;Takahashi, M
