Test of an X-ray flat panel sensor as a beam profile monitor
Test of an X-ray flat panel sensor as a beam profile monitor
复制标题
作为光束轮廓监视器的 X 射线平板传感器测试
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A.O. Tokiyasu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Kanda;K. Honda;T. Ishikawa;M. Kaneta;K. Maeda;M. Miyabe;Y. Muroi;W. Nakai;S. N. Nakamura;A. Ninomiya;Y. Obara;K. Ozawa;K. Ozeki;T. Sasaki;H. Shimizu;A.O. Tokiyasu
