Micro-electro-mechanical-systems-based single-device digital logic gates for harsh environment applications
Micro-electro-mechanical-systems-based single-device digital logic gates for harsh environment applications
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适用于恶劣环境应用的基于微机电系统的单器件数字逻辑门
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
F. K. Chowdhury
中科院分区：
文献类型：
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作者：
F. K. Chowdhury
