Total-reflection X-ray diffractometry and its applications to evaporated organic thin films
Total-reflection X-ray diffractometry and its applications to evaporated organic thin films
复制标题
全反射X射线衍射及其在蒸发有机薄膜中的应用
DOI：
10.1016/0584-8547(93)80017-o
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发表时间：
1993
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Matsushige
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Horiuchi;K. Matsushige
