Transformation from an atomically stepped NiO thin film to a nanotape structure : A kinetic study using x-ray diffraction
Transformation from an atomically stepped NiO thin film to a nanotape structure : A kinetic study using x-ray diffraction
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从原子级 NiO 薄膜到纳米带结构的转变：使用 X 射线衍射的动力学研究
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Yoshimoto
中科院分区：
文献类型：
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作者：
O. Sakata;J. M. Soon;A. Matsuda;Y. Akita;M. Yoshimoto
