In Situ Atomic Force Microscopy Imaging of Structural Changes in Metal Nanowires during Feedback-Controlled Electromigration
In Situ Atomic Force Microscopy Imaging of Structural Changes in Metal Nanowires during Feedback-Controlled Electromigration
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反馈控制电迁移过程中金属纳米线结构变化的原位原子力显微镜成像
DOI：
10.1116/1.4929444
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Ito and J. Shirakashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Yagi;M. Ito and J. Shirakashi
