PROPTEST: a property based test pattern generator for sequential circuits using test compaction
PROPTEST: a property based test pattern generator for sequential circuits using test compaction
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PROPTEST：使用测试压缩的基于属性的时序电路测试模式生成器
DOI：
10.1109/dac.1999.782023
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发表时间：
1999
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
I. Pomeranz
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ruifeng Guo;S. Reddy;I. Pomeranz
我们描述了一种基于属性的测试生成过程，该过程使用静态压缩来生成测试序列，以低计算复杂度实现高故障覆盖率。提出了一类测试压缩程序并在基于属性的测试生成器中使用。实验结果表明，这些压缩程序可用于实现所提出的测试生成器，以相对较短的运行时间实现高故障覆盖率。
We describe a property based test generation procedure that uses static compaction to generate test sequences that achieve high fault coverages at a low computational complexity. A class of test compaction procedures are proposed and used in the property based test generator. Experimental results indicate that these compaction procedures can be used to implement the proposed test generator to achieve high fault coverage with relatively smaller run times.