Analysis and modeling of self-heating effects in thin-film SOI MOSFETs as a function of temperature
Analysis and modeling of self-heating effects in thin-film SOI MOSFETs as a function of temperature
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薄膜 SOI MOSFET 中自热效应随温度变化的分析和建模
DOI：
10.1016/0038-1101(94)00130-8
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发表时间：
1995
影响因子：
1.7
通讯作者：
F. Balestra
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Jomaah;G. Ghibaudo;F. Balestra
