Photo induced minority carrier annihilation at crystalline silicon surface in metal oxide semiconductor structure
Photo induced minority carrier annihilation at crystalline silicon surface in metal oxide semiconductor structure
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金属氧化物半导体结构中晶体硅表面的光致少数载流子湮灭
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and M. Hasumi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Sameshima;J. Furukawa;T. Nakamura;S. Shigeno;T. Node;S. Yoshidomi;and M. Hasumi
