基于光学相干层析技术的电工胶带检验方法

基于光学相干层析技术的电工胶带检验方法
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DOI:
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发表时间:
2018
期刊:
激光与光电子学进展
影响因子:
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通讯作者:
许小京
许小京
中科院分区:
其他
文献类型:
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作者:
刘康康;孟利;张宁;孙振文;谢彬;刘星星;许小京

文献摘要

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