Quantitative behavior of surfactants at the liquid/vacuum interface by secondary ion mass spectrometry
Quantitative behavior of surfactants at the liquid/vacuum interface by secondary ion mass spectrometry
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通过二次离子质谱法定量表面活性剂在液/真空界面的行为
DOI：
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发表时间：
1984
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S. Dorn
中科院分区：
文献类型：
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作者：
W. Ligon;S. Dorn
