High-resolution electron microscopy and electron tomography: resolution versus precision.
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DOI：
10.1016/s1047-8477(02)00016-3
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发表时间：
2002-04
影响因子：
3
通讯作者：
S. Aert;A. J. D. Dekker;D. Dyck;A. Bos
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Aert;A. J. D. Dekker;D. Dyck;A. Bos
