Quasi Gaussian fitting of image sharpnesses for automatic focusing in ultrahigh voltage electron microscopy
Quasi Gaussian fitting of image sharpnesses for automatic focusing in ultrahigh voltage electron microscopy
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超高压电子显微镜自动聚焦图像清晰度的准高斯拟合
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and H. Yasuda
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Nishi;Y. Moriyama;K. Yoshida;N. Kajimura;S. Isakozawa;H. Mogaki;M. Ozawa;and H. Yasuda
