Efficiency calibration of semiconductor detectors by primary standard sources and Monte Carlo calculations
Efficiency calibration of semiconductor detectors by primary standard sources and Monte Carlo calculations
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通过主要标准源和蒙特卡罗计算对半导体探测器进行效率校准
DOI：
10.1016/0167-5087(82)90646-9
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发表时间：
1982
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
B. Grosswendt
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Debertin;B. Grosswendt
