Fine Control of Tip Geometries by Asymmetric Wet Etching for Scanning Ion Conductance Microscopy
Fine Control of Tip Geometries by Asymmetric Wet Etching for Scanning Ion Conductance Microscopy
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通过扫描离子电导显微镜的不对称湿法蚀刻对尖端几何形状进行精细控制
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Shinji Watanabe
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Riku Yajima;Shinji Watanabe
