Micron-sized fracture experiments on amorphous SiOx films and SiOx/SiNx multi-layers

Micron-sized fracture experiments on amorphous SiOx films and SiOx/SiNx multi-layers
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非晶SiOx薄膜和SiOx/SiNx多层微米级断裂实验

DOI:
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发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
G. Dehm
G. Dehm
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
K. Matoy;H. Schönherr;T. Detzel;G. Dehm

文献摘要

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