Measurements of 10Be and 26Al with a tandetron AMS facility
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DOI：
10.1016/0168-583x(87)90196-0
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发表时间：
1987-11
影响因子：
1.3
通讯作者：
G. Raisbeck;F. Yiou;D. Bourlès;J. Lestringuez;D. Deboffle
中科院分区：
文献类型：
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作者：
G. Raisbeck;F. Yiou;D. Bourlès;J. Lestringuez;D. Deboffle
