S.Morita et.al.: "Defects and Its Charge Imaging on Semiconductor Surfaces by Noncontact Atomic Force Microscopy and Spectroscopy"Journal of Crystal Growth. (In press). (2000)
S.Morita et.al.: "Defects and Its Charge Imaging on Semiconductor Surfaces by Noncontact Atomic Force Microscopy and Spectroscopy"Journal of Crystal Growth. (In press). (2000)
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S.Morita 等人：“通过非接触原子力显微镜和光谱法对半导体表面进行缺陷及其电荷成像”晶体生长杂志。
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