Thermal Fluctuation Effects in Thin Magnetic Films

Thermal Fluctuation Effects in Thin Magnetic Films
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磁性薄膜中的热波动效应

DOI：
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发表时间：
1961
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
E. P. Wohlfaktii
E. P. Wohlfaktii
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
E. P. Wohlfaktii

文献摘要

被引文献

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根据热涨落效应理论，定量地解释了Hollenthal(1960)关于薄膜矫顽力随时间变化的观测结果，并推导和讨论了各向异性场和平均有效微晶尺寸的值。
ABSTRACT The observation (Hollenthal 1960) that the coercive force of thin films is time dependent is interpreted quantitatively on the basis of the theory of thermal fluctuation effects, and values of the anisotropy field and mean effective crystallite size are deduced and discussed.