Preliminary reliability data from accelerated RF life tests on European GaN HEMTs
Preliminary reliability data from accelerated RF life tests on European GaN HEMTs
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来自欧洲 GaN HEMT 加速射频寿命测试的初步可靠性数据
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
F. Vitobello
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. Barnes;F. Vitobello
本文概述了作为欧洲航天局 GREAT 项目一部分通过独立加速射频寿命测试获得的初步可靠性结果。
This paper gives an overview of the preliminary reliability findings obtained through performing independent accelerated RF life testing as part of the European Space Agency GREAT project.