Role of free carriers in the application of optically detected magnetic resonance for studies of defects in silicon
Role of free carriers in the application of optically detected magnetic resonance for studies of defects in silicon
复制标题
自由载流子在光学检测磁共振应用中研究硅缺陷的作用
DOI：
10.1007/bf00323872
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发表时间：
1991
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
B. Monemar
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Weimin M. Chen;B. Monemar
