低温ESRを用いたペンタセン薄膜トランジスタのトラップ分布解析
低温ESRを用いたペンタセン薄膜トランジスタのトラップ分布解析
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利用低温ESR分析并五苯薄膜晶体管的陷阱分布
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Mishchenko、長谷川達生
中科院分区：
文献类型：
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作者：
松井弘之、Andrei S.;Mishchenko、長谷川達生
