S.Nashima他: "Measurement of optical properties of highly doped silicon by terahertz time domain reflection spectroscopy"Appl.Phys.Lett.. 79-24. 3923-3925 (2001)
S.Nashima他: "Measurement of optical properties of highly doped silicon by terahertz time domain reflection spectroscopy"Appl.Phys.Lett.. 79-24. 3923-3925 (2001)
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S.Nashima 等人：“通过太赫兹时域反射光谱测量高掺杂硅的光学特性”Appl.Phys.Lett. 79-24 (2001)。
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