Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
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半导体器件 - 机械和气候测试方法
DOI：
10.3403/30425841
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Clémence Garcia
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Clémence Garcia
