Compact failure modeling for devices subject to electrostatic discharge stresses - A review pertinent to CMOS reliability simulation
Compact failure modeling for devices subject to electrostatic discharge stresses - A review pertinent to CMOS reliability simulation
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受静电放电应力影响的设备的紧凑失效建模 - 与 CMOS 可靠性仿真相关的评论
DOI：
10.1016/j.microrel.2014.10.015
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J. Liou
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Miao;Y. Zhou;J. Salcedo;J. Hajjar;J. Liou
