Influence of surface roughness on measuring depth profiles and the total amount of implanted ions by RBS and ERDA

Influence of surface roughness on measuring depth profiles and the total amount of implanted ions by RBS and ERDA
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表面粗糙度对 RBS 和 ERDA 测量深度剖面和注入离子总量的影响

DOI:
10.1016/s0168-583x(97)00798-2
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发表时间:
1998
影响因子:
1.3
通讯作者:
R. Grötzschel
R. Grötzschel
中科院分区:
物理与天体物理4区
文献类型:
--
作者:
R. Behrisch;S. Grigull;U. Kreissig;R. Grötzschel

文献摘要

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