Reliable techniques for integrated circuit identification and true random number generation using 1.5-transistor flash memory
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使用 1.5 晶体管闪存进行集成电路识别和真随机数生成的可靠技术
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Holbert
中科院分区：
文献类型：
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作者：
L. Clark;James Adams;K. Holbert
