The preparation of transmission electron microscope specimens from compound semiconductors by ion milling
The preparation of transmission electron microscope specimens from compound semiconductors by ion milling
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离子铣削制备化合物半导体透射电镜样品
DOI：
10.1016/0304-3991(87)90163-x
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发表时间：
1987
期刊：
影响因子：
2.2
通讯作者：
A. Cullis
中科院分区：
文献类型：
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作者：
N. G. Chew;A. Cullis
