Elecron Density Flucutuation Measured by Microwave Imaging Reflectometer in LHD
Elecron Density Flucutuation Measured by Microwave Imaging Reflectometer in LHD
复制标题
铲运机微波成像反射仪测量电子密度涨落
DOI：
--
复制
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Y. Nagayama
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
三輪邦之;今田裕;木村謙介;今井みやび;M. Galperin;金有洙;Y. Nagayama
