Multiplicity distributions of charged hadrons at AGS, SPS and RHIC
Multiplicity distributions of charged hadrons at AGS, SPS and RHIC
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AGS、SPS 和 RHIC 处带电强子的多重分布
DOI：
10.1007/s12648-011-0020-z
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发表时间：
2011-04
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Feng Shengqin
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Feng Shengqin
研究发现，集体流模型（CFM）可以成功地分析AGS和较低SPS（小于20 GeV/n）下的带电粒子分布，但不能分析RHIC的带电粒子分布。RHIC中带电粒子分布的尾部有一个跳变
It is found that Collective Flow Model (CFM) which can successfully analyze charged particle distributions at AGS and lower SPS (less than 20 GeV/n), fails to analyze that of RHIC. The tail of distribution of charged particle at RHIC has a jump away from
DOI：
10.1088/0954-3899/22/1/015
发表时间：
1996
期刊：
Journal of Physics G
影响因子：
--
作者：
H. Stöcker
通讯作者：
H. Stöcker
DOI：
10.1142/9789814277549
发表时间：
1994-09
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
C. Wong
通讯作者：
C. Wong
影响因子：
8.6
作者：
B. Back;M. Baker;M. Ballintijn;D. Barton;B. Becker;R. Betts;A. Bickley;R. Bindel;W Busza-;A. Carroll;M. Decowski;E. Garcia;T. Gburek;N. George;K. Gulbrandsen;S. Gushue;C. Halliwell;J. Hamblen;A. Harrington;C. Henderson;D. Hofman;R. Hollis;R. Hołyński;B. Holzman;A. Iordanova;E. Johnson;J. Kane;N. Khan;P. Kulinich;C. Kuo;J. Lee;W. Lin;S. Manly;A. Mignerey;R. Nouicer;A. Olszewski;R. Pak;I. Park;H. Pernegger;C. Reed;C. Roland;G. Roland;J. Sagerer;P. Sarin;I. Sedykh;W. Skulski;C. E. Smith;P. Steinberg;G S F Stephans-;A. Sukhanov;M. Tonjes;A. Trzupek;C. Vale;G. van Nieuwenhuizen;R. Verdier;G. Veres;F. Wolfs;B. Wosiek;K. Woźniak;B Wysłouch-;J. Zhang
通讯作者：
B. Back;M. Baker;M. Ballintijn;D. Barton;B. Becker;R. Betts;A. Bickley;R. Bindel;W Busza-;A. Carroll;M. Decowski;E. Garcia;T. Gburek;N. George;K. Gulbrandsen;S. Gushue;C. Halliwell;J. Hamblen;A. Harrington;C. Henderson;D. Hofman;R. Hollis;R. Hołyński;B. Holzman;A. Iordanova;E. Johnson;J. Kane;N. Khan;P. Kulinich;C. Kuo;J. Lee;W. Lin;S. Manly;A. Mignerey;R. Nouicer;A. Olszewski;R. Pak;I. Park;H. Pernegger;C. Reed;C. Roland;G. Roland;J. Sagerer;P. Sarin;I. Sedykh;W. Skulski;C. E. Smith;P. Steinberg;G S F Stephans-;A. Sukhanov;M. Tonjes;A. Trzupek;C. Vale;G. van Nieuwenhuizen;R. Verdier;G. Veres;F. Wolfs;B. Wosiek;K. Woźniak;B Wysłouch-;J. Zhang