Interferometry for ellipso-height-topometry Part 2: Measurement of the ellipsometric data, material identification, and correction of the measured height
Interferometry for ellipso-height-topometry Part 2: Measurement of the ellipsometric data, material identification, and correction of the measured height
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椭圆高度地形测量的干涉测量第 2 部分：椭圆测量数据的测量、材料识别和测量高度的校正
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Leonhardt
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Leonhardt
