Exploring possibilities of band gap measurement with off-axis EELS in TEM.

Exploring possibilities of band gap measurement with off-axis EELS in TEM.
复制标题

探索 TEM 中离轴 EELS 测量带隙的可能性。

DOI：
--
复制
发表时间：
2017
期刊：
Ultramicroscopy
影响因子：
2.2
通讯作者：
J. Verbeeck
J. Verbeeck
中科院分区：
工程技术3区
文献类型：
--
作者：
S. Korneychuk;B. Partoens;G. Guzzinati;R. Ramaneti;J. Derluyn;K. Haenen;J. Verbeeck

文献摘要

被引文献

相似文献