Refinement of Conditions of Point-Contact Current Imaging Atomic Force Microscopy for Molecular-Scale Conduction Measurements
Refinement of Conditions of Point-Contact Current Imaging Atomic Force Microscopy for Molecular-Scale Conduction Measurements
复制标题
用于分子尺度传导测量的点接触电流成像原子力显微镜条件的改进
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takashi Yajima
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takashi Yajima
