Kinetic ellipsometry measurement of InGaP/GaAs hetero-interface formation in MOVPE
Kinetic ellipsometry measurement of InGaP/GaAs hetero-interface formation in MOVPE
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MOVPE 中 InGaP/GaAs 异质界面形成的动力学椭圆光度测量
DOI：
10.1016/s0022-0248(00)00673-4
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发表时间：
2000
影响因子：
1.8
通讯作者：
Y. Shimogaki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Nakano;Y. Nakano;Y. Shimogaki
